Аналоговые измерительные устройства

2.3. Компенсация погрешностей.

          Компенсация погрешностей в АИП может осуществляться способом составных пара­метров и компенсирующего преобразования с полной и неполной компенсацией. Наиболее широко применяется способ составных параметров. Для уменьше­ния действия каждого влияющего фактора в АИП необходимо вводить отдельные дополнительные элементы, уменьшающие влияние только одного конкретного фактора на работу прибора.

          При воздействии какого-либо влияющего фактора ξ  в СИ возникает  погрешность  ∆ξ, обусловленная изменением этого фактора. Пусть  математическое ожидание  и дисп­ерсия погрешности равны  m[∆ξ] и σ2 [∆ξ]. Для компенсации погрешности в схему АИП включается некоторый элемент, вызывающий в АЭП появление погрешности ∆К(ξ), коррелированной с погрешностью ∆ξ, и имеющей плотность распределения, близкую к плотности распределения погрешности ∆ξ прибора. Значение остаточной погрешности  О(ξ) в этом случае можно определить из формулы

                         (2.13)

          При оптимальном значении дисперсии D[∆K(ξ)] минимальное значение дисперсии остаточной погрешности будет равно

        (2.14)

где ρk – нормированный коэффициент корреляции погрешностей ∆(ξ) и ∆К(ξ).

          Если между составляющими погрешностями АИП ∆ξ и ∆к(ξ) имеется неслучайная связь (чего и добиваются при параметрической компенсации погрешностей), то ρk = 1 и значение остаточной погрешности может быть равно 0.

          Недостатком этого способа повышения точности АИП  является невозможность подбора одинаковых параметров влияния основного и дополнительного элементов во всем диапазоне изменения влияющих факторов ξ.

          В качестве примера применения этого способа можно указать на схемы компенсации температурной погрешности магнитоэлектрических приборов и частотной погрешности в выпрямительных приборах.


© Copyright 2008, SLAiPS. All Rights Reserved. | Design by Design by analogiu.ru