Аналоговые измерительные устройства

2.4.2. Аддитивная коррекция.


Рис.2.5.

При аддитивной коррекции погреш­ностей СИ уменьшение погрешности осуществляется за счет смещения функции преобразования СИ. На рис. 2.5 показана одна из возможных структурных схем СИ с аддитивной коррекцией. В этой схеме операция выделения сигнала погреш­ности ∆Х  происходит в результате одновременного или разно­временного вычитания двух сигналов - входного Х и обратного ХК преобразователей. Усиленный вспомогательным каналом ВК разностный сигнал Y2 используется для введения поправки  в средство измерения. Пусть  СИ  имеет  аддитивную и мультипликативную погрешности и его выходной сигнал

                  (2.20)

а обратный образцовый преобразователь имеет идеальную переда­точную характеристику вида

                         (2.21)

Тогда

       (2.22)

                     (2.23)

          Сигнал ∆Х поступает на вход вспомогательного канала (ВК). Пусть ВК имеет такие же составляющие погрешности, что и СИ. Тогда выходной сигнал Y2 ВК можно представить в виде

   (2.24)

где  - аддитивная, мультипликативная  погрешности и номинальный  коэффициент преобразования  вспомогательного канала.

ВК имеет такие же составляющие погрешности, как и корректируемое СИ.

          Выходной сигнал Y СИ равен

         (2.25)

          Из выражения (2.25) видно, что для получения малой остаточной погрешности скорректированного СИ необходимо иметь малую аддитивную погрешность блока ВК и равенство номинальных  коэффициентов преобразования блока ВК и СИ. В этом случае Y = KHX и в СИ осуществлена полная коррекция погрешностей. Идеальная коррекция возможна только в одной точке шкалы СИ, так  как  погрешность скорректированного СИ  зависит от значений сигнала Х. Аддитивную коррекцию погрешности следует применять при преобладании  в  общей  погрешности  СИ  аддитивной составляющей. Указанные соотношения  должны  выполняться во всем частотном диапазоне процесса погрешностей.

          Достоинством способа является отсутствие замк­нутых контуров, что упрощает решение вопросов устойчивости  работы устройства и позволяет получить высокую чувствительность СИ.


© Copyright 2008, SLAiPS. All Rights Reserved. | Design by Design by analogiu.ru